Die KRÜSS GmbH hat ein neuartiges Doppeldosiersystem für die Benetzungsanalyse fester Oberflächen entwickelt. Das Dosiermodul DS3252 leistet in Verbindung mit Kontaktwinkel-Messinstrumenten von KRÜSS vollautomatische Bestimmungen der freien Oberflächen-energie (SFE) innerhalb einer Sekunde. Wegen der extrem kurzen Messzeiten ist die neue Dosierlösung besonders für die Qualitätssicherung bei der Reinigung, Vorbehandlung und Beschichtung fester Materialien geeignet. Aber auch in der Forschung und Entwicklung überzeugt das System mit genauen, reproduzierbaren Analysen und wissenschaftlichen Auswertungsmethoden.
Die ab April 2015 verfügbare Dosiereinheit arbeitet mit zwei parallel angeordneten Druckdosierungen, welche je einen Tropfen der beiden Testflüssigkeiten Wasser und Diiodmethan simultan auf der Probe erzeugen. Der Vorgang erfolgt mit hoher Volumenpräzision und minimaler kinetischer Energie und gleicht so trotz hoher Geschwindigkeit dem sanften Absetzen von Tropfen durch eine Dosiernadel. Das kontaktlose Verfahren verhindert dabei vor allem eine ungewollte Berührung und somit eine mögliche Kontaminierung oder Beschädigung der Probe. Für eine einfache Handhabung der Dosierung sorgen schnell entnehmbare Kartuschen, in welche die Testflüssigkeiten direkt gefüllt werden. Eine Füllung reicht dabei für etwa 1000 Messungen der SFE.
Für Schnelligkeit sorgt auch das für Messungen mit der Doppeldosierung entwickelte Auswerteverfahren: Zur gleichzeitigen Darstellung beider Tropfen im Video ist das Bildfeld der hochauslösenden Kamera gesplittet, sodass die Tropfenkonturen in zwei parallelen Videobildern analysiert werden. Aus den resultierenden Kontaktwinkeln berechnet die Software die SFE des Festkörpers. Der gesamte Vorgang vom Start der Dosierung bis zur Berechnung der SFE vollzieht sich vollautomatisch innerhalb einer Sekunde. Für diese innovative „One-Click SFE“-Methode und die neuartige Dosiertechnologie hat KRÜSS zwei Patente angemeldet.
Der Ablauf einer Analyse ist in einer einfach und zügig erstellten Messvorlage definiert und kann bei entsprechender Ausstattung des Messinstruments beliebig mit softwaregesteuerten Probentisch-bewegungen kombiniert werden. So ermöglicht das System vollautomatische Probenanalysen mit zuvor definierten Messpositionen. Dabei sind Fehler bei der Anwendung durch die einfache Vorbereitung des Messablaufs und den hohen Automatisierungsgrad so gut wie ausgeschlossen.
